PC平板等各種電子產(chǎn)品在進(jìn)入市場(chǎng)之前都會(huì)經(jīng)過(guò)各類(lèi)測(cè)試，比如高溫高濕測(cè)試項(xiàng)目、快速溫變測(cè)試項(xiàng)目、鹽霧腐蝕測(cè)試項(xiàng)目等等，這些測(cè)試項(xiàng)目使得廠家生產(chǎn)的PC平板等電子產(chǎn)品在可靠性方面有更強(qiáng)的說(shuō)服力。

一、環(huán)境可靠性試驗(yàn)對(duì)PC平板等電子產(chǎn)品的作用

PC平板等電子產(chǎn)品在使用過(guò)程中，環(huán)境條件的影響往往容易被忽視，然而它對(duì)其正常運(yùn)行和有效利用有著很大的影響。各種系列PC平板等電子產(chǎn)品的技術(shù)設(shè)備和信息記錄，對(duì)環(huán)境條件的參數(shù)范圍都有技術(shù)規(guī)定，超過(guò)和達(dá)不到這個(gè)規(guī)定就會(huì)使得電子產(chǎn)品的可靠性降低，壽命縮短。而環(huán)境因素中，溫度和濕度是不可分割的兩個(gè)重要因素。

實(shí)驗(yàn)室的研究人員正是通過(guò)環(huán)境可靠性試驗(yàn)，去反映產(chǎn)品問(wèn)題、功能設(shè)計(jì)，甚至反向改造'生產(chǎn)線，用高度精密的自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備替換掉傳統(tǒng)的人工質(zhì)檢，也賦予了廠家的電子產(chǎn)品有了諸多同行難以企及的長(zhǎng)久耐用性、或是消費(fèi)者甚至想象不到的細(xì)節(jié)體驗(yàn)。

二、PC平板等電子產(chǎn)品溫濕度試驗(yàn)的過(guò)程

高溫會(huì)使元器件和電路產(chǎn)生的熱量散不出去，從而加快材料老化，并在內(nèi)部引起暫時(shí)的或長(zhǎng)久的微觀變化，低溫容易使得電子產(chǎn)品內(nèi)部金屬部件鈍化，軟磁盤(pán)變得脆弱相對(duì)濕度過(guò)低，容易產(chǎn)生靜電，對(duì)電子產(chǎn)品造成干擾，濕度過(guò)高會(huì)使得內(nèi)部電阻增大。所以說(shuō)溫濕度對(duì)PC平板等電子產(chǎn)品的影響不是那么一點(diǎn)點(diǎn)，在出廠前的測(cè)試變得尤為重要。

1、將樣品放入試驗(yàn)箱，按照如下要求設(shè)定溫度程序；

2、試驗(yàn)箱設(shè)置溫度為+25℃，相對(duì)濕度為95%；

3、用3h時(shí)間，使得溫度上升到+55℃，相對(duì)濕度95%，并保持9h；

4、用3h時(shí)間，使得溫度降低到+25℃，相抵濕度95%，并保持9h；

5、以上為一個(gè)周期，重復(fù)4個(gè)循環(huán)；

6、然后在溫度+25℃，相對(duì)濕度75%條件下保持2h；

7、取出樣品，常溫下恢復(fù)2h，檢查外觀。