高低溫濕熱試驗(yàn)箱是用于電氣電子元器件、自動化、通訊元器件、汽車零部件、金屬零部件、化工材料、塑料等行業(yè)，國防工業(yè)、航空航天、工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及物理形狀變化的高分子材料，測試材料拉一遍又一遍地和產(chǎn)品在輸出高/低溫?zé)崦浝淇s的化學(xué)或物理傷害,可以確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量,從精密集成電路到重型機(jī)械部件,可以使用,是一個重要的組成部分,產(chǎn)品測試測試用例的所有領(lǐng)域。

電子元件是高低溫濕熱試驗(yàn)箱的基礎(chǔ)，它可能由于其固有缺陷或在使用過程中對制造過程的控制不當(dāng)，形成與時間有關(guān)或與應(yīng)力有關(guān)的故障。為了保證整批部件的可靠性，滿足整機(jī)的要求，在使用條件下，有必要將早期可能出現(xiàn)故障的部件拆除。零件的故障率隨時間變化的過程可以用類似于“浴缸曲線”的故障率曲線來描述。早期故障率隨時間的增加迅速下降，在使用壽命(或意外故障期)內(nèi)故障率基本不變。

1、高溫貯存

電子元件的失效大多是由其機(jī)體和表面的各種物理、化學(xué)變化引起的，這些變化與溫度密切相關(guān)。當(dāng)溫度升高時，化學(xué)反應(yīng)速度大大加快，破壞過程也加快。使有缺陷的部件能及時外露，待拆除。

2、功率電老練

在篩選過程中，在熱電應(yīng)力的共同作用下，可以很好地暴露元器件內(nèi)部和表面的各種潛在缺陷，這是可靠性篩選的一個重要項目。

各種電子元件通常條件下額定功率老化幾個小時到168小時,一些產(chǎn)品,如集成電路、不能隨便改變條件,但可以使用高溫工作改善工作結(jié)溫,實(shí)現(xiàn)高應(yīng)力狀態(tài),電動壓力選擇合適的各種組件,可以等于或略高于額定條件,但它不能吸引新的失效機(jī)理

3、溫度循環(huán)

電子產(chǎn)品在使用過程中會遇到不同的環(huán)境溫度條件。在熱膨脹和冷縮應(yīng)力作用下，熱匹配性能差的部件容易失效。溫度循環(huán)篩分利用極端高溫和極端低溫之間的熱膨脹和冷縮應(yīng)力，可有效消除具有熱性能缺陷的產(chǎn)品。常用的組分篩選條件為-55 ~ +125℃，循環(huán)5~10次。

4、部件篩選的必要性

電子元器件的固有可靠性取決于產(chǎn)品的可靠性設(shè)計。在產(chǎn)品的制造過程中，由于人為因素或原材料、工藝條件、設(shè)備條件的波動，zui終成品不可能達(dá)到預(yù)期的固有可靠性。

高低溫濕熱試驗(yàn)箱是否能可靠工作，取決于電子元器件是否能可靠工作。如果將早期故障部件安裝在整機(jī)設(shè)備上，整機(jī)設(shè)備的早期故障率將大大提高，其可靠性不能滿足要求，需要付出巨大的修理代價。